輸出電荷量1pC、2pC、5pC~~~
輸出頻率500HZ~2KHZ(步進50)
注入電容10pF,100pF可選
上升時間<100ns
衰減時間≥100μs
輸出阻抗≤100Ω
校準脈沖值誤差<1%
極性正,負交替
電池充電電池16.8V
尺寸重量120×85×55,約0.5kg
1、本系統的操作、維護應由能勝任的相關人員進行。
2、局部放電試驗現場電壓高達幾萬伏,試驗人員應嚴格遵守所有安全預防措施。試驗區域應有明顯、清晰的警示牌,現場人都應該知道高壓區域。直接從事的測量人員應了解測量回路中所有帶電元件、高壓元件,不直接從事測量的人員應被隔離在試驗區域之外。在試驗過程中及上電后,人不得進入高壓區。
3、在試驗以前,操作人員應掌握測試線路、測試方法、測試步驟和測試目的。
4、試驗現場要整潔、干凈,不應存放其他無關的物品。在高壓區間的地面上不應有雜亂的金屬小塊(如裸銅線段、螺絲、螺帽和其它小金屬塊等),被試品、升壓變壓器、耦合電容等應與周圍保持適當距離。
5、被試品、升壓變壓器、耦合電容等表面應保持干燥清潔,因為表面的濕氣和污垢會引起表面的局部放電,導致測量異常。
6、高壓導線應盡可能短而粗,以防止電暈,可采用管等。試驗回路所圍的面積盡可能小,以降低干擾的引入。電壓等級高的高壓端應加防電暈帽。試驗區金屬物體應牢固接地,不能懸浮,檢查并改善試驗區內一切可能放電的部位(如不能有尖、銳角),特別注意地線是否良好接地。
7、在試驗開始加壓前,試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯。特別應關注接地線、高壓線和強電回路的連線是否牢固連接。
8、試驗異常時,應先切斷電源,再作進一步處理。
每個通道的輸入信號立的經過前級低通濾除部分低頻信號,再經過衰減或放大處理,然后經過細調增益控制,經過更精密一級的高低通濾波,進一步篩選出放電信號,經過高速寬頻帶12位AD轉換器進行模數轉換,得到的數據經過FPGA存儲在緩存SDRAM中,再由FPGA通過USB(或以太網)上傳給PC機或工控主機系統進行顯示。
試驗電壓信號經過電壓互感器隔離變換成小信號,小信號分兩路:一路經過調理得到試驗電壓的外零標信號,另一路經過有效值轉換和A/D轉換得到試驗電壓數據。該數據由FPGA送給PC機或工控主機系統進行顯示。

脈沖電流法檢測原理(HFCT)
由電力變壓器的結構所決定,其繞組除匝間電容外還與鐵心之間存在幾百甚至幾千皮法的分布電容,同時繞組與油箱間也存在上百皮法的分布電容。當變壓器的繞組等主絕緣回路中發生局部放電時,其產生的信號覆蓋了從幾十千赫茲到幾十兆赫茲,甚至到千兆赫茲,由于幾百皮法電容對于幾百千赫茲以上的信號相當于通路,所以放電信號就會向所有與放電點有容性關系的回路中傳播,其中一條回路必然包括鐵心接地回路。所以在鐵心接地線上安裝電流互感器可有效接收變壓器內放電信號。

超聲波法檢測原理
當變壓器內部產生放電信號時,除產生放電脈沖電流沿容性回路傳輸外,同時還會激發出機械波(超聲波)信號通過變壓器油向四周傳播。雖然電力變壓器的結構較為復雜,但是變壓器的整個器身內充滿了變壓器油,而繞組、絕緣材料、支撐、夾件、引線等部件均浸在油中,由于變壓器油為超聲波的良好傳播媒介,這為在箱壁外側檢測局放產生的超聲信號提供了有力條件。所以,在變壓器的箱壁外側安放超聲波傳感器可以接收到內部較大的放電信號。

通用試驗方法
(一)試驗目的:(1)證實試品在規定電壓下沒有高于規定值之局部放電;
(2)測定電壓上升時出現放電超過某一規定值時的低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時放電低于規定值時高電壓(終止放電電壓)。
(3)測定在某一規定電壓下的放電強度。
(二)試驗條件:(1)交流電源電壓應為正弦波,不應有過大的高次諧波。
(2)試品的電氣、機械溫度條件應良好且穩定。
(3)由于電壓回滯現象的影響,在試驗前至少幾小時以上的時間內,不要承受超過規定的局部放電試驗電壓高值以上的電壓。
(4)經過搬運后的試品,必須靜放一段時間后再做局部放電試驗(油浸)。
(三)試驗程序:1.將試驗區內的雜物盡量移到試區以外,金屬體應牢固接地,檢查和改善試區內一切可能放電的部位,應特別注意地線是否已接地。
2.根據不同的試品和試驗條件,選擇正確的接線方式。
3.對所選擇的測試回路用視在放電量標準器對整個測試系統進行刻度系數校正,校正時對所規定的刻度系數K值調節儀器的增益旋鈕,把H調到H=UoCo/K值。校正完畢后,測試儀器的細調(連續調節)增益旋鈕不得隨意變動,同時應將視在放電器校準器從高壓線路上取下,以免在加壓試驗時將視在放電量校準品擊穿而使高壓線路短路。
(四)注意事項:1.在試驗開始加壓以前,試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準備工作時接地線被腳踢斷,這將可能引起人身和設備事故。切切!
2.對于連接線應避免將暴露在外,屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3.試驗完畢后,應對整個測試系統再進行一次復查校正,驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數相等,以免測試儀器或其它環節在試驗過程中發生故障而使測試結果不對。
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