若試品Cx在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí)，經(jīng)耦合電容Ck產(chǎn)生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號(hào)，經(jīng)低噪音前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出電放脈沖，同時(shí)也送到脈沖峰值表（對(duì)數(shù)表）顯示其峰值。時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間，并在這段時(shí)間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進(jìn)一步加強(qiáng)了抗干擾能力。
功能特點(diǎn)
測量通道：2/4通道測量，立的信號(hào)調(diào)理、AD采樣、處理、顯示，且實(shí)現(xiàn)同步采樣。
測量功能：可檢測局部放電幅值、性、相位、放電起始電壓、熄滅電壓、次數(shù)等相關(guān)參數(shù)。
同步功能：內(nèi)、外同步選擇，且具有零標(biāo)指示和相位分辨功能。
顯示方式：可選擇橢圓、直線、正弦及二維、三維等界面顯示局部放電信號(hào)，可直觀的分析測試過程中信號(hào)的頻率、相位、幅度以及試驗(yàn)電壓之間的相互關(guān)系。
局部放大：可對(duì)單個(gè)或某一段放電信號(hào)進(jìn)行波形分析，確定信號(hào)的性質(zhì)。
開窗功能：可在*相位開窗（消隱），用于特別顯示（或屏蔽）*相位的信號(hào)（干擾）。
同步消隱：在配合阻抗單元和耦合電容的情況下，可對(duì)來自地網(wǎng)、試驗(yàn)電源和試驗(yàn)現(xiàn)場空間的干擾進(jìn)行同步濾除。
性鑒別：可通過放電信號(hào)的脈沖性區(qū)分，是試品內(nèi)部，還是外部的放電，有效去除外部干擾。
頻譜分析：基于FFT算法實(shí)現(xiàn)的頻譜分析與FIR數(shù)字濾波功能。
增益可調(diào)：在量程切換跨度內(nèi)，實(shí)現(xiàn)增益連續(xù)可調(diào)。
保存打印：可保存單次放電的數(shù)據(jù)，也可記錄一段時(shí)間的局部放電圖形及相關(guān)參數(shù)，保存的數(shù)據(jù)可回放和重現(xiàn)方便后期分析。對(duì)單次放電的數(shù)據(jù)提供打印功能。

通用試驗(yàn)方法
（一）試驗(yàn)?zāi)康模海?）證實(shí)試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
（2）測定電壓上升時(shí)出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時(shí)的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時(shí)放電低于規(guī)定值時(shí)高電壓（終止放電電壓）。
（3）測定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。
（二）試驗(yàn)條件：（1）交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機(jī)械溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
（3）由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗(yàn)前至少幾小時(shí)以上的時(shí)間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗(yàn)電壓高值以上的電壓。
（4）經(jīng)過搬運(yùn)后的試品，必須靜放一段時(shí)間后再做局部放電試驗(yàn)（油浸）。
（三）試驗(yàn)程序：1．將試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，金屬體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意地線是否已接地。
2．根據(jù)不同的試品和試驗(yàn)條件，選擇正確的接線方式。
3．對(duì)所選擇的測試回路用視在放電量標(biāo)準(zhǔn)器對(duì)整個(gè)測試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)校正，校正時(shí)對(duì)所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把H調(diào)到H=UoCo/K值。校正完畢后，測試儀器的細(xì)調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動(dòng)，同時(shí)應(yīng)將視在放電器校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗(yàn)時(shí)將視在放電量校準(zhǔn)品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項(xiàng)：1．在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。切切!
2．對(duì)于連接線應(yīng)避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對(duì)整個(gè)測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對(duì)。

每個(gè)通道的輸入信號(hào)立的經(jīng)過前級(jí)低通濾除部分低頻信號(hào)，再經(jīng)過衰減或放大處理，然后經(jīng)過細(xì)調(diào)增益控制，經(jīng)過更精密一級(jí)的高低通濾波，進(jìn)一步篩選出放電信號(hào)，經(jīng)過高速寬頻帶12位AD轉(zhuǎn)換器進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到的數(shù)據(jù)經(jīng)過FPGA存儲(chǔ)在緩存SDRAM中，再由FPGA通過USB（或以太網(wǎng)）上傳給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。
試驗(yàn)電壓信號(hào)經(jīng)過電壓互感器隔離變換成小信號(hào)，小信號(hào)分兩路：一路經(jīng)過調(diào)理得到試驗(yàn)電壓的外零標(biāo)信號(hào)，另一路經(jīng)過有效值轉(zhuǎn)換和A/D轉(zhuǎn)換得到試驗(yàn)電壓數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)由FPGA送給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。

零標(biāo)輸入單元作為局部放電檢測系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)，對(duì)識(shí)別局部放電和干擾有重要作用，本儀器系統(tǒng)內(nèi)置內(nèi)零標(biāo)單元和外零標(biāo)輸入單元。外零標(biāo)輸入時(shí)，系統(tǒng)的相位可以和外零標(biāo)輸入嚴(yán)格同步，且無頻率間隔要求，故可以和無局放串聯(lián)諧振電源相配合，外零標(biāo)的輸入范圍為：交流10∽380V，30Hz∽300Hz。
在實(shí)際試驗(yàn)中，可以將試驗(yàn)電源電壓經(jīng)分壓器降至10∽380V再接入零標(biāo)單元。如果在屏幕上輸入分壓器的變比，可以直接測量出試驗(yàn)電源電壓。例如，電容分壓器變比是500：1，則選擇變比為500。
如果試驗(yàn)電源和儀器電源同相或試驗(yàn)電源和工頻嚴(yán)格同步，可使用儀器內(nèi)零標(biāo)。
一般，當(dāng)沒有外零標(biāo)輸入信號(hào)時(shí)，儀器自動(dòng)選擇內(nèi)零標(biāo)作為本系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)。如果試驗(yàn)電源和儀器電源相位不同，必須對(duì)其相位進(jìn)行校正后才可測量。
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